自动化薄膜厚度绘图系统

依靠F60先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约45秒的时间就可以扫描完标准49点分布图。

为特定的测量要求设计许多特定功能，例如：自动寻找notch点、自动基准校正、封闭独立的测试平台和 已安装好软件的工业化电脑等。

可测样品膜层

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

例如：

相关应用

液晶显示器

盒厚/聚酰亚胺/ITO

生物医学

聚对二甲苯/生物膜/硝化纤维

半导体制造

光刻胶/氧化物/氮化物

光学镀膜

硬涂层/抗反射涂层/滤光片

产品优势

依靠 F60光学膜厚测量仪 先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图。