瑞士梅特勒-托利多超越系列XP超微量/分析/电子天平-参数-价格-广州德菲科学仪器有限公司手机站

产品描述

zei大化节省样品成本

超越系列至尊型XP微量天平——高性能微量天平
梅特勒-托利多正在改变着微量天平世界。超越系列XP微量天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本，尤其是在称量昂贵样品时。

XP U微量天平	XP26	zei大称量值：22g 可读性：0.001mg 重复性：±0.0025mg 线性误差：±0.006mg 校正技术：ProFACT 典型稳定时间：3.5s 秤盘尺寸：40*40mm
XP U微量天平	XP26DR	zei大称量值：5.1/22g 可读性：0.002/0.01mg 重复性：±0.002/0.008mg 线性误差：±0.01mg 校正技术：ProFACT 典型稳定时间：3.5/2.5s 秤盘尺寸：40*40mm
XP U微量天平	XP56	zei大称量值：52g 可读性：0.001mg 重复性：±0.0025mg 线性误差：±0.006mg 校正技术：ProFACT 典型稳定时间：3.5s 秤盘尺寸：40*40mm
XP U微量天平	XP56DR	zei大称量值：11/52g 可读性：0.002/0.01mg 重复性：±0.002/0.014mg 线性误差：±0.03mg 校正技术：ProFACT 典型稳定时间：3.5/2.5s 秤盘尺寸：40*40mm