瑞士梅特勒-托利多超越系列XP分析电子天平
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瑞士梅特勒-托利多超越系列XP分析电子天平

产品属性

  • 品牌
  • 产地
  • 型号XP105DR/XP205/XP205DR/XP204/XP504/XP504DR
  • 关注度15
  • 信息完整度
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产品描述

安全可靠, 无可替代
随着超越系列XP天平的诞生, 梅特勒-托利多在分析天平领域树立起了又一里程碑。顶尖的创新技术带来了空前的称量性能,在人员,样品和数据安全方面设置了新的标准。
功能和特点
SmartGrid: 不寻常的称量特性,革新性的网格秤盘,将室内空气气流干扰降至zei低.实现zei快的称量结果显著降低天平的稳定时间.
SmartSens: 实现无需用手接触的天平操作. 操作人员可以全神贯注的进行样品的安全处理, 避免溢出, 并将污染的风险zei小化.
SmartSens红外感应器:SmartScreen彩色触摸显示屏,引导用户正确操作,触摸屏技术使得称量操作异常便捷.
LevelControl:天平未被置平时发出警告,始终保证结果的准确性.
连通性:灵活的通讯接口 包括以太网,蓝牙(无线连通)和PS/2-高效率地采集数据和简单地整合入网络。
 
 
去静电装置(可选):有效的中和样品吸附的静电荷从而避免样品的污染.
XP分析天平 XP205 zei大称量值:220g
可读性:0.01mg
重复性:±0.03mg
线性误差:±0.1mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:2.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP105DR zei大称量值:31/120g
可读性:0.01/0.1mg
重复性:±0.015/0.06mg
线性误差:±0.15mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP205DR zei大称量值:81/220g
可读性:0.01/0.1mg
重复性:±0.015/0.06mg
线性误差:±0.15mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP204 zei大称量值:220g
可读性:0.1mg
重复性:±0.07mg
线性误差:±0.2mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP504 zei大称量值:520g
可读性:0.1mg
重复性:±0.12mg
线性误差:±0.4mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm
XP分析天平 XP504DR zei大称量值:101/520g
可读性:0.1/1mg
重复性:±0.1/0.6mg
线性误差:±0.5mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:1.5s
秤盘尺寸:78*73mm

广州德菲科学仪器有限公司

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