型号： PHI nanoTOF II
品牌：爱发科
产地：日本
| 产地： | 亚洲 |
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| 供应商性质： | 生产商 |
| 产地类别： | 进口 |
| 仪器种类： | 飞行时间 |
| 价格范围： | 500万-1000万 |
PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™
TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。
PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
特点：立体收集角度大和深景深 二次离子以不同的初始能量和角度 从样品表面飞出,因此,即使是质量 完全相同的离子,在分析仪内的飞行 时间也会产生差异,飞行时间差是导 致质量分辨率变差的原因之一。 NanoTOFⅡ采用的是三重聚焦静电分 析仪（TRIFT型）,可以同时矫正由初 始能量和发射角的差异而发生的飞行 时间差异而发生的飞行时间差。 TRIFT型分析仪的最大的优势,就是同时实现了高质量分辨率和高检测灵敏度，并且成像没有阴影。 |
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图2(a)不同飞出角度的二次离子飞行轨迹示意图 | 2(b) 断裂陶瓷截面示意图及二次离子分布图 |
同时实现高空间及高能量分辨模式：nanoTOF Ⅱ安装了新开发的离子枪（对应的源为Bi，Au，Ga），空间分辨率最小能达到70纳米（Bi3++）。此外，在新设计的脉冲压缩（Bunched）机理下，可采用高质量分辨率模式，实现500纳米或以下（Bi3++）的空间分辨率，其增加了三倍以上的电流密度，同时提高了灵敏度，空间分辨率和质量分辨率。
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图-3 b）旧型号仪器像 | 图-3 c）nanoTOF II成像 | |
视野范围最小可至5微米：下图显示的是在较高的空间分辨率下，PS/PMMA聚合物的成像。传统上来说，聚合物的分子分布结构，只能用AFM观察，但在这里，nanoTOF II也能做到。
