Park NX-Hivac失效分析和敏感材料研究的最佳选择

应用领域:电子/电器/半导体,纳米材料

检测样品:敏感材料

检测项目:表面测量

方案摘要

Park NX-Hivac可使故障分析工程师在高真空环境中提高AFM测量的灵敏度和重复性。

由于高真空测量比一般环境或干燥的氮气条件下具有更高的精确性,更好的重复性,更少的针尖和样品损伤,用户可以在各种失效分析应用中测量更广泛的信号响应范围,例如扫描扩展电阻显微镜SSRM的掺杂浓度。。

相关产品
店铺 下载
咨询留言 一键拨号