英飞思矿石矿产分析光谱仪EDX 9000B PLUS参数指标

英飞思矿石矿产分析光谱仪EDX 9000B PLUS

能量色散X射线荧光光谱仪---

矿物矿石矿产成分、品味分析专家

>美国AmpTek-SDD探测器，高分辨率和高计数率

>元素分析范围高达42个元素

• 高性能和最低检测水平

>定制您的测试解决方案

> 高级勘探和土壤分析

• 泥浆记录

• 石油/天然气领域的特殊应用

• 矿床建模/绘图

> 增强轻元素分析

>煤和铁矿石中的铝土矿和惩罚元素

• 工业矿物，包括用于水泥生产的石灰石

>可选的样品架/颗粒用于减少样品异质性问题

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿物分析专家

EDX9000B 在所有浓度水平下都提供卓越的准确度。它还提供快速（通常 2 到 3 分钟）

回转。为现场带来前所未有的精度和速度，使 EDX9000B 成为应用的理想选择

例如分析岩心 - 例如，检测页岩气边界层 - 能够快速改变方向，最大限度地提高钻井生产率

EDX9000Banalyzer 的购买价格与同类其他仪器相比具有很强的竞争力。在很多情况下，它

也是大型实验室仪器价格的一半。此外，随着采矿或勘探的直接改进

由于准确信息的快速可用性，EDX9000B 提供了出色的回报

投资

生产和矿物加工

快速、实验室级的样品分析变得简单：用很少或没有样品在现场测试您的样品

准备。实现为过程控制、质量保证和其他运营决策提供可靠数据所需的准确性。

• 坡度控制

• 划定矿石和废物边界

• 矿石交易

• 浓度测量

工业矿产

EDX9000B XRF 分析仪是一种新兴的采石场勘探和评估仪器

工业用磷酸盐、钾肥、石膏、石灰石等原料的组成。

• 非常适合确定石灰石中的惩罚元素，

铁矿石和铝土矿

• 原材料的混合和分类

• 即时标记品位、次品位和废料，并防止将矿石带入废料堆

EDXRF简介

 EDXRF 仪器将不同元素的特征 X 射线分离成完整的荧光能谱，然后进行处理以进行定性或定量分析。

EDXRF 技术是筛选各种材料的便捷方法，可快速识别和定量从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素。

EDXRF 仪器可以是手持式或便携式，具体取决于用户的喜好，使其成为现场分析的完美工具，无需长途跋涉到实验室即可为用户提供即时反馈。低拥有成本和任何样品类型的快速元素分析使 EDXRF 成为有吸引力的前端分析工具。

X 射线荧光 (XRF) 分析（或光谱法）：一种仪器、比较分析方法

基于外部X辐射的材料原子或适当能量（波长）的伽马辐射，特征能量量子的近瞬时发射（荧光）现象

放射性同位素或 X 射线管用作外部辐射源以激发样品

>仪器规格

光谱仪尺寸：560mm*380mm*410mm

样品室尺寸：460mm*310mm*95mm

真空样品室尺寸：Φ150mm×高75mm

重量：45Kg

元素范围：Na11-U92

分析含量范围：1ppm- 99.99%

检测器：AmpTek高分辨率SDD

DPP分析仪：4096通道DPP分析仪

激发源：50W X射线管

高压机组：0-50kV

电源：220ACV 50/60HZ

环境：-10 °C 到35 °C

全新设计的XTEST分析软件

软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。

*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量

*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。

*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图

*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。

*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。

*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。

铝土矿样品10次连续测试稳定性报告