英飞思矿石矿产分析光谱仪EDX 9000B PLUS
能量色散X射线荧光光谱仪---
矿物矿石矿产成分、品味分析专家
>美国AmpTek-SDD探测器,高分辨率和高计数率
>元素分析范围高达42个元素
• 高性能和最低检测水平
>定制您的测试解决方案
> 高级勘探和土壤分析
• 泥浆记录
• 石油/天然气领域的特殊应用
• 矿床建模/绘图
> 增强轻元素分析
>煤和铁矿石中的铝土矿和惩罚元素
• 工业矿物,包括用于水泥生产的石灰石
>可选的样品架/颗粒用于减少样品异质性问题
EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿物分析专家
EDX9000B 在所有浓度水平下都提供卓越的准确度。它还提供快速(通常 2 到 3 分钟)
回转。为现场带来前所未有的精度和速度,使 EDX9000B 成为应用的理想选择
例如分析岩心 - 例如,检测页岩气边界层 - 能够快速改变方向,最大限度地提高钻井生产率
EDX9000Banalyzer 的购买价格与同类其他仪器相比具有很强的竞争力。在很多情况下,它
也是大型实验室仪器价格的一半。此外,随着采矿或勘探的直接改进
由于准确信息的快速可用性,EDX9000B 提供了出色的回报
投资
生产和矿物加工
快速、实验室级的样品分析变得简单:用很少或没有样品在现场测试您的样品
准备。实现为过程控制、质量保证和其他运营决策提供可靠数据所需的准确性。
• 坡度控制
• 划定矿石和废物边界
• 矿石交易
• 浓度测量
工业矿产
EDX9000B XRF 分析仪是一种新兴的采石场勘探和评估仪器
工业用磷酸盐、钾肥、石膏、石灰石等原料的组成。
• 非常适合确定石灰石中的惩罚元素,
铁矿石和铝土矿
• 原材料的混合和分类
• 即时标记品位、次品位和废料,并防止将矿石带入废料堆
EDXRF简介
EDXRF 仪器将不同元素的特征 X 射线分离成完整的荧光能谱,然后进行处理以进行定性或定量分析。
EDXRF 技术是筛选各种材料的便捷方法,可快速识别和定量从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素。
EDXRF 仪器可以是手持式或便携式,具体取决于用户的喜好,使其成为现场分析的完美工具,无需长途跋涉到实验室即可为用户提供即时反馈。低拥有成本和任何样品类型的快速元素分析使 EDXRF 成为有吸引力的前端分析工具。
X 射线荧光 (XRF) 分析(或光谱法):一种仪器、比较分析方法
基于外部X辐射的材料原子或适当能量(波长)的伽马辐射,特征能量量子的近瞬时发射(荧光)现象
放射性同位素或 X 射线管用作外部辐射源以激发样品
>仪器规格
光谱仪尺寸:560mm*380mm*410mm
样品室尺寸:460mm*310mm*95mm
真空样品室尺寸:Φ150mm×高75mm
重量:45Kg
元素范围:Na11-U92
分析含量范围:1ppm- 99.99%
检测器:AmpTek高分辨率SDD
DPP分析仪:4096通道DPP分析仪
激发源:50W X射线管
高压机组:0-50kV
电源:220ACV 50/60HZ
环境:-10 °C 到35 °C
全新设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法(FP),经验系数法(EC),可轻松分析各类样品。
*光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正,即所有基质效应,增强和吸收。
*谱显示:峰定性,KLM标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图
*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。
*可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。
*基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。
铝土矿样品10次连续测试稳定性报告
样品 | 氧化镁 | 三氧化二铝 | 二氧化硅 | 氧化钾 | 氧化钙 | 二氧化钛 | 氧化锰 | 三氧化二铁 |
Sample-1 | 0.438 | 84.577 | 8.754 | 0.196 | 0.502 | 3.753 | 0.049 | 1.966 |
Sample-2 | 0.442 | 84.853 | 8.88 | 0.197 | 0.522 | 3.799 | 0.052 | 1.962 |
Sample-3 | 0.424 | 84.508 | 8.81 | 0.197 | 0.509 | 3.852 | 0.051 | 1.983 |
Sample-4 | 0.427 | 84.537 | 8.636 | 0.196 | 0.513 | 3.777 | 0.051 | 1.963 |
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