布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS参数指标

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：

• 提供 1.5 nm 的空间分辨率

• 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

• 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案

• 全自动内置 ARGUS 成像系统

1.5纳米有效的空间分辨率：独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型，从而实现无与伦比的性能

2 nA 测试所需的最大电流：同轴 TKD 可实现低探头电流测试，且不影响测试速度和数据质量

125,000 Pps，超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像，无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像