【技术特点】-- 布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：

• 提供 1.5 nm 的空间分辨率

• 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

• 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案

• 全自动内置 ARGUS 成像系统

电子显微镜分析仪

QUANTAX EBSD

同轴 TKD 具有无与伦比的性能

最佳空间分辨率

低探头电流要求

1.5纳米有效的空间分辨率：独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型，从而实现无与伦比的性能

2 nA 测试所需的最大电流：同轴 TKD 可实现低探头电流测试，且不影响测试速度和数据质量

125,000 Pps，超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像，无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像

具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的最佳解决方案。原因如下：

• 提供 1.5 nm 的最佳空间分辨率

• 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

• 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯一 TKD 解决方案

• 全自动内置 ARGUS 成像系统
  

为什么我需要同轴 TKD？

Ge-Sb-Te (GST) 薄膜样品的暗场像图片，我们感谢斯坦福大学Aaron Lindenberg组提供的样品和图像结果

• 实现最佳空间分辨率

• SEM 中获取取向分布图和物相分布图

• 用于快速测试，同时不影响数据质量/完整性

• 以令人难以置信的速度，通过全自动信号优化，以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像

• 可使用低电流分析束流敏感材料。

您的分析挑战是什么？

矿物学样品的高级物相识别

EBSD是地球科学研究中一项非常强大的技术，可用于分析微观结构和物相等。

Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD

Ball bonding is a type of wire bonding, commonly used for electrical interconnections in semiconductor devices.

镍基超合金微观结构的 EBSD 表征

镍基超合金以其出色的机械强度、耐热蠕变变形、耐疲劳、耐腐蚀或氧化而广为人知。

产品优势

同轴 TKD 具有无与伦比的性能
最佳空间分辨率

低探头电流要求

【技术特点对用户带来的好处】-- 布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS

【典型应用举例】-- 布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS