太赫兹近场光学显微镜 — THz-NeaSNOM技术特点

【技术特点】-- 太赫兹近场光学显微镜 — THz-NeaSNOM

产品简介：

太赫兹（THz）光源波长较大，一般在300微米左右。由于衍射极限的存在，THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究，尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究（例如半导体芯片中各个组成：源极，漏极，栅极）的实验。THz-NeaSNOM近场光学显微镜的出现为此难题提供了一个很好的解决方案。

德国Neaspec公司与Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近场光学显微镜的基础上，已经成功研发了一套易用使用且THz系统的空间分辨率达到30nm的实验设备。

【技术特点对用户带来的好处】-- 太赫兹近场光学显微镜 — THz-NeaSNOM

【典型应用举例】-- 太赫兹近场光学显微镜 — THz-NeaSNOM