返回 双模式表面三维轮廓仪 返回 双模式表面三维轮廓仪 
产品型号：NanoMap-D（0）
品牌：阿尔派
产品产地：美国
产品类型：进口
原制造商：阿尔派
状态： 在售
厂商指导价格：
未提供
英文名称：NanoMap-D（0）
上市时间：
2011年
优点： 仪器简介： NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构：粗糙度,波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等 2、二维图像分析：距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量 6、微电子表面分析和MEMS表征
参考成交价格：
20~35万元[人民币] 查中标价
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