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双模式三维轮廓仪、台阶仪
Rtec
进口 轮廓仪/粗糙度仪
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产品型号:UP- WLI+AFM
品牌:Rtec
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:Rtec
状态: 在售
厂商指导价格: 未提供
英文名称:UP- WLI+AFM
上市时间: 2011年
优点: 特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜 白光干涉 白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
参考成交价格:
50~100万元[人民币]
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标
签
产地
美洲
价格范围
50万-100万
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