用于晶格水平应变和材料成分测量的微拉曼系统。高光谱分辨率(0.02 cm-1)和亚微米级横向分辨率。通过硅通孔(TSV)的测量可防止区域,局部应力和成分分析。全自动 C2C 系统。
FSM360是一台全自动紫外线——可见光RAMan仪器,主要用与测量芯片应力。
利用微米直径光斑照射。
芯片会产生另外一个光束(Raman信号),Raman信号的频率有别于原来的光源。
从Raman信号频率我们可以测出样本的应力大小。