磁光克尔效应测量系统

磁光克尔效应测量系统

参考成交价格: 1~5万元[人民币]
技术特点

【技术特点】-- 磁光克尔效应测量系统

品简介

磁光克尔效应测量系统

市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE


当聚焦激光束照射磁性材料(主要是磁性薄膜)时,因纵向磁光克尔效应和极向磁光克尔效应会造成激光偏振态变化(克尔偏转角变化),磁光克尔效应测量系统u-MOKE就是一套精确测量克尔偏转角变化的设备。

磁光克尔效应测量系统u-MOKE通过装备的极向/面内磁体产生磁场测量偏振态的变化,可以测量分析磁性材料um量级局部区域的磁学特性。


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应用:

n 基于极向克尔效应与纵向克尔效应的微观局部磁性分析

n 适用于磁象和磁性薄膜的um尺寸灵敏度分析



【技术特点对用户带来的好处】-- 磁光克尔效应测量系统


【典型应用举例】-- 磁光克尔效应测量系统


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