【技术特点】-- 光谱椭偏仪

产品简介：SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案，紧凑集成化设计，极致用户操作体验，一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷，丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力，广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。

产品型号	SE-VE光谱椭偏仪
主要特点	1、采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm) 2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集 3、数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料
可选配件	1	温控台
2	真空泵
3	透射吸附组件

【技术特点对用户带来的好处】-- 光谱椭偏仪

【典型应用举例】-- 光谱椭偏仪