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PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210(-T)
PHOTONIC LATTICE
进口 椭偏仪
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产品型号: ME-210(-T)
品牌:PHOTONIC LATTICE
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:PHOTONIC LATTICE
状态: 在售
厂商指导价格: 未提供
英文名称: ME-210(-T)
上市时间: 2016年
优点: 以往的椭偏仪是单点测试,因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作,而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小,也就是说,无法取得微小区域的膜厚分布数据。
参考成交价格:
80~100万元[人民币]
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标
签
产地
亚洲
价格范围
80万-100万
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