高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
高低频介电常数测试仪GCSTD-D
一、满足标准:
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
技术参数
校准频率:DC-30MHz
夹具设计:符合ASTM D150国际标准
测试原理:平行板电容器原理
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
测试电极:平行板上下电极+保护电极
电极直径:26.8mm
温度范围:RT-1000℃
工作温度:RT-600℃,RT-800℃
分析仪的其他关键特性还包括:紧凑的外形,可与其他仪器和工具合理利用工作台空间;简单易操作的用户界面;10.4 英寸彩色 LCD 触摸显示屏;多重设置功能,可确保用户对同一时间不同条件下的多个参数进行评估;精心设计的等效电路分析功能,支持七种不同的多参数模式,利用此项功能用户能够对元器件的等效参数值进行仿真。
控温精度:±0.3℃
显示精度:0.1℃
升温速率:1-6℃/min
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
技术参数
校准频率:DC-30MHz
夹具设计:符合ASTM D150国际标准
测试原理:平行板电容器原理
测试电极:平行板上下电极+保护电极
阻抗测量超过100TΩ(1014Ω),测试范围从100Ω-100TΩ,达12个数量级;
精确测量介质损耗,tanδ<10-4;
频率范围:10μHz ~10MHz;
随着低功耗紧凑型设备市场需求的激增,高效的电源转换器已经变得更加重要,而且需要知道产品设计阶段关键的低损耗元器件的真实特征。
电极直径:26.8mm
温度范围:RT-1000℃
工作温度:RT-600℃,RT-800℃
可施加交流信号电压及直流偏压
施加高达1000V电压(用外接高压源或放大器)
去揭示先前难于达到的一些基本数据。
直接测量介电常数和介电损耗,阻抗谱cole-cole图,压电机电耦合系数,磁导率;
同时符合国际标准和国家标准。
控温方式:提供恒温、变温、常温三种控温方式,同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。
温度控制:带智能PID控制算法,全温区控温无超调。
图谱数据:频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、时间谱、介温谱一次测量,同时输出,可保存BMP格式文件。
控温精度:±0.3℃
显示精度:0.1℃
升温速率:1-6℃/min
视频带宽:10Hz--1MH 1-10STEP
振幅测量范围:20dBm-平均显示噪声电平
显示范围(对数):10dB/div 8div 1,2,5dB/div 10div
数据保存:数据库存储,支持excel、txt格式导出
测试样品:薄膜、陶瓷
样品尺寸:直径:小于40mm,厚度:小于8mm
通讯接口:RS232接口
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪