返回 高分子材料介电常数及... 返回 高分子材料介电常数及... 
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
独立选择2个通道的参数
直接读取介电常数、导磁率（选件）
控温方式：提供恒温、变温、常温三种控温方式，同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。
温度控制：带智能PID控制算法，全温区控温无超调。
2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）
E4990A 可在宽泛的阻抗区间提供 0.045%（典型值）的基本精度。E4991B 的基本精度为 0.65%，并且配有精确的材料测量选件，可以执行 -55oC ~ 150 oC 的温度表征，以及支持介电常数和导磁率的直接读取功能。
F阻抗/材料分析仪为表面贴装元件和介电/磁性材料的高精度测量提供总体解决方案。Agilent 4291使用的不是反射测量技术，而是直接电流和电压测量技术，从而能在宽阻抗范围进行更精确的阻抗测量。
基本阻抗精度为±0.8%。其高Q值精度可用于分析低损耗元件。
图谱数据：频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、时间谱、介温谱一次测量，同时输出，可保存BMP格式文件。
数据保存：数据库存储，支持excel、txt格式导出
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
其高Q值精度可用于分析低损耗元件。内部合成器的扫描频率从1MHz至1.8GHz，具有1mHz的分辨率。1.8m长的无误差电缆把分析仪接到测试台，因而能使测试点离开分析仪，而不会损失精度。先进的校准和误差补偿功能可扣除夹具造成的测量误差，保证对DUT/MUT的高精度和可重复性。
测试样品：薄膜、陶瓷
样品尺寸：直径：小于40mm，厚度：小于8mm
通讯接口：RS232接口
自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。
高温介电测量系统用于高温下材料的介电性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。
完全整合的研究系统，可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术，如恒定电流，通过脉冲电压和扫描电压（I-V）确定材料的电学性能；又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理。
系统使用圆柱型电极方法测量介电参数，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
安捷伦的最新阻抗分析仪是业界唯一能在 20 Hz ~ 3 GHz 频率范围内对毫欧姆到兆欧姆的所有元器件执行高精度测量的仪器，因而能够轻松评估高质量元器件的真实特征。
为分析低电导率、低损耗材料要扩展即使是zui好的频响分析仪的能力。阻抗仪（1260）单独使用时，已不能有效地解决上述问题。
高温阻抗测量系统用于高温下材料的阻抗性能测量与分析，包括阻抗、相位角及其它变换参数。系统软件也可以测量介电常数与介质损耗等介电参数。
超高阻抗测试仪接口克服了这些限制，提供一个范围超过了12个数量级的快速、精确、可重复的阻抗测量，阻抗测量超过100TΩ（1014Ω），可洞察各种材料包括聚合物、橡胶、木材、粘胶剂、电子元件、石腊及油类等的特性。与易于操作的软件相结合，系统能照应实验技术而让你集中精力于所得结果的分析。
具有抗电磁干扰能力强、频率范围宽等特点，主要应用于材料研究与应用开发。测试电极使用铂金材料，可减少接触电阻。根据不同的测试材料，可以选择四探针与两探针两种测试夹具。
参考成交价格：