大塚电子显微分光膜厚仪OPTM技术特点

【技术特点】-- 大塚电子显微分光膜厚仪OPTM

显微分光膜厚仪OPTM SERIES

OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度高。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。

产品特点：

·非接触非破坏式测量

·高速拍摄自动对焦，1秒即可得到结果

·波长范围广（紫外-近红外），可测量厚度或颜色不同的各种薄膜

·操作简单，无经验也可轻松解析光学常数

·开放而安全的操作台，光栅传感器触发停止，避免损伤。

【技术特点对用户带来的好处】-- 大塚电子显微分光膜厚仪OPTM

【典型应用举例】-- 大塚电子显微分光膜厚仪OPTM