KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪技术特点

【技术特点】-- KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪

1:高频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-1

用途

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

【技术特点对用户带来的好处】-- KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪

【典型应用举例】-- KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪