CT断层扫描仪，工业CT扫描，X射线参数指标

轻松且精准地进行多样化特征检测

利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

直观简易的软件操作

仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。