工业CT系统,X射线计算机断层扫描技术,X射线成像系统,工业CT断层扫描仪
基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次X射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。 ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。测量与检验整体部件