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致力于为分析测试行业奉献终身
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少?
TEM的样品厚度最好小于100nm,太厚了电子束不易透过,分析效果不好。
2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征?
在SEM图片中,沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开,且晶粒晶界明显;穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开,晶粒晶界都较模糊。