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致力于为分析测试行业奉献终身
Si(Li)探测器类的 X 射线能谱仪已广泛地应用于电子探针和扫描电镜的分析领域,据不完全统计, 我国大约有500多台 X 射线能谱仪与电子探针或扫描电镜(包括透视电子显微镜)联用,已成为最为主要的微区元素分析的工具,发挥了重要的作用。但也存在着分析结果上的明显缺陷,严重地影响定量分析的质量,并导致许多不应有的研究成果谬误的
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