扫描电镜和X射线能谱应用于涂布纸涂层的分析

2018.7.26

温洁

致力于为分析测试行业奉献终身

介绍了常用的先进分析方法—扫描电子显微镜(SEM)和X-射线电子能谱(XPS),同时结合实验对其运用进行了详细的介绍和分析。结果表明:SEM和XPS相结合应用于涂层分析,可以很好地获得涂层形貌和结构的信息。

x射线能谱/涂布纸

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