简单介绍芯片点样仪的原理

　　接触式芯片点样仪：即点样针直接与固相支持物表面接触，将DNA样品留在固相支持物上，此种点样方式适合一次取样点50张芯片以下的情况;其二为非接触式点样，即喷点，它是以压电原理将DNA样品通过毛细管直接喷至固相支持物表面，此种点样方式适合一次取样点50张芯片以上的情况，并且非接触式点样的密度不如接触式点样，主要适合于膜芯片，对于高密度的玻璃芯片一般均采用接触式点样。

　　非接触式芯片点样仪：系统构成除了运动机构之外需要高精度柱塞泵和压电喷头。运动机构用来移动喷头实现在试剂盒取样，到薄片喷样以及到水槽清洗等功能，柱塞泵用来完成连续向喷头供给样品液，以及在洗针过程中从喷嘴汲取清洗液和冲洗喷头腔体等动作。

　　喷头结构原理：它是在硅片上刻蚀出腔体和细小的喷嘴，腔体的背面贴上压电陶瓷，腔体的顶部用玻璃材料对腔体进行密封。工作时对压电陶瓷施加电压，压电陶瓷产生形变并带动硅片产生弯曲和凸凹形变，使腔体的体积迅速发生变化，进而喷射出液体微滴。这种形变喷射出的液体体积在纳升和皮升量级，工作的频率可达1kHz，所以非常适合高精度的纳升皮升级点样系统。