ACTIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未来平台）设计理念，使用率背照式 CCD 为检测器的 ICP–AES 光谱仪。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光谱仪的一贯优势，又引入了先进的 CCD（电荷耦合元件）技术，从而提高了仪器的质量和灵活性。

　　ACTIVA–M 对 ICP 分析工作者提供了一个完全不同的 ICP 分析概念, 不同于时下的其他 CCD ICP, 多谱线分析需由人为判断是否有光谱干扰及zui终人为选择谱线及确认分析结果, ACTIVA-M 提供了一个全自动化对谱线选择及光谱干扰的判断, 加上完整统计上的校正曲线自动判断, 确保了zui后分析结果的可靠性. 本机使用超过 50,000 条 HJY 专属的ICP 谱线资料库 (S3-base, Single element Spectra, Spectroscopic data) 为分析谱线基准, 利用专属的 IMAGE 全谱定性半定量系统, 无需任何标准溶液, 对未知样品进行快速半定量分析, 获得各元素的浓度范围。将基体元素浓度及欲分析元素浓度输入至 MASTER 软件后, 不需进行任何上机分析或 spectrum profiling, 即可快速由软件多谱线视窗中看到所有谱线之光谱干扰及可采用的元素分析谱线, 并自动汇出建立完整的全定量分析方法。 经此全定量方法, 建立校正曲线, 并经由 CALSTAT 对此工作曲线进行统计学上的自动判断, 以确保曲线的合理性并开始进行样品分析。 然后经由 SOS (Statistical Outlier Survey) 自动对多谱线分析结果进行筛选, 以确保zui后分析结果的可靠性。

　　由于ACTIVA-M 拥有zui宽广的光谱范围及优异的恒定光学分辨率, 加上创新的“完整”多谱线分析观念, 使本机适合所有研发及质管上各样品种类的分析利器。

　　新型等离子体发射光谱仪主要特点：

　　新型全自动Activa-M电感耦合等离子体原子发射光谱仪, 采用专为科研性光谱学而设计的高性能传感器, 为一超低噪声CCD固态检测器ICP光谱仪, 涵盖zui宽广的光谱分析范围 (120 – 800nm), 适合于各类型分析应用; 并包括Cl, Br, I 等真空紫外元素波长的分析, 对正常波长范围内 (160 – 800nm) 的元素光谱干扰问题提供了一个全新波段免除光谱干扰的可能性。

　　高分辨率模式在120-430nm光区的光谱分辨率<10pm。 高速模式在120-800nm光区的光谱分辨率<18pm。

　　检测器具强大抗溢出功能, 好的实际动态范围，达107，至少有5个数量级的线性响应范围。采用AIMO (Advanced Inverted Mode Operation), 低暗电流，具有大的阱容量 (象素电荷储存量)。

　　采用高技术电子线路，内含Rapid ChipTM组件。

　　采用好的垂直炬管径向观测与高亮度，高性能光学系统相结合，可以径向观测等离子体的整个正常分析区（不同类型的样品分析不受限制）。

　　等离子体室空间大，炬管、雾室装置为卡式结构、拆卸、安装便捷，无需任何调节。宽阔的样品导入区，具有便利可向下折叠的抗腐蚀样品托盘。

　　Smart Hood（智能化排风装置）保证等离子体区的排风安全、方便，并降低了安装成本。

　　的S3-base (Single-element Spectra, Spectroscopic data) ICP谱线数据库有助于在120-800nm范围内选用zui佳ICP谱线。

　　完整的全自动多谱线及可靠性分析概念, 使用功能强大的多谱线分析工具 IMAGE (full spectrum acquisition tool) & MASTER (Multi-line Analysis, Selection Tool for Enhanced Reliability) 加上统计学上的分析工具CALSTAT & SOS (Statistical Outlier Survey), 确保了zui后分析结果的可靠性。

　　功能强大的ACTIVAnalyst 软件扩展了以CCD为检测器的AnalystTM ICP 软件的功能, 具备多种选购件及供仪器升级用的部件。

　　本系统可于一个光谱视窗内同时测量多波长及其背景，提供多元素的率分析。将相邻的光谱视窗加合起来，系统即可覆盖100% 的光谱范围。