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致力于为分析测试行业奉献终身
各种分子中键长的数值，大量地已通过晶体的X射线衍射法予以测定；为数较少的简单的气态分子和X-H键长已通过光谱法和中子衍射法测出。
除了用光谱、衍射等物理方法测定键长外,量子化学中可以由从头计算法或自洽场半经验法计算键长 。
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