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测定再结晶温度的方法有直接法和间接法两种。
直接法是用金相显微镜直接测定退火过程中试样所生成的再结晶晶粒的百分数，以确定其再结晶温度。此法直观，简便易行，是一种广泛采用的方法。
间接法是用X射线衍射法测定再结晶过程中衍射环的变化，也可用硬度、电阻、热电动势、内耗以及释放的变形等物理量的变化来确定再结晶温度。
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