扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，具有以下特征：
1.高分辨率：扫描电镜能够提供非常高的空间分辨率，可达到0.1纳米的水平，可以观察微小的表面结构和形貌。
2.大深度视场：扫描电镜能够提供非常深的视场深度，能够观察样品的三维结构。
3.表面成像：扫描电镜不仅能够观察半透明和不透明的样品表面，还能够实现高质量的表面成像，形成非常清晰的图像。
4.高灵敏度：扫描电镜能够检测样品表面的电荷变化，并对其进行成像，从而可以观察到很多电性和化学性质。
5.非破坏性：扫描电镜无需对样品进行特殊的制备处理，通常可以使用没有损伤的样品进行观察。
6.样品类型广泛：扫描电镜适用于各种样品，包括金属、陶瓷、生物、纤维、塑料等样品类型，可以提供非常详细和准确的信息。
总之，扫描电镜是一种非常强大的显微镜，可以提供高质量的表面成像和精确的样品信息，广泛应用于材料科学、生物科学、环境科学等领域研究中。
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