见“微”知著|第二代S8 TIGER微区分析系统简介

传统的X射线荧光光谱仪（XRF）分析时要求制样均匀，既熔片、压片、金属块或液体等。

但如果遇到不均匀的样品或对特殊样品的某一区域感兴趣时，传统的分析就无法满足需求了。

这时需要进行微区分析，也就是针对小尺寸样品或样品某一特定区域进行定性、定量或元素分布分析。

传统的微区分析方法包括：

扫描电镜（SEM）

激光剥离等离子质谱（LA-ICPMS）

带毛细管聚焦的能量色散X射线荧光光谱仪等

但这些分析手段或多或少的都存在一些局限：

分析样品尺寸小

灵敏度一般

精度不够

以及有的会对样品造成破坏等等

而波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）的微区分析则很好地解决了这些问题：

凭借HighSenseTM技术和市面同等仪器最小尺寸准直器面罩（300μm），第二代S8 TIGER能对最小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。

轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。

此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。

它可以在科研（地质、材料科学）和质量控制（电子、材料科学、镀层）上给予我们帮助，可以分析不均匀的地质、生物样品或进行技术产品的监控（CIS/CIGS 太阳能电池），它还可以对小颗粒或导致产品不合格的异物（聚合物、玻璃、金属等产品的问题判断）进行确认等等。

应用实例：

1—

分析陨石

▲来自美国亚利桑那州巴林杰陨石坑“Canyon Diablo”的铁镍陨石

2—

分析化石

▲鹦鹉螺化石

3—

分析矿物

▲铌钽铁矿

4—

分析耐火材料

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