尽管Si是一种半导体材料，但SiO2却是一种上好的绝缘材料，而且具有极其稳定的化学性质，这些优良特性使其在继承电路制造中有着非常广泛的应用。本文建立了利用原子吸收法测定SiO2中K、Na、Ca、Mg、Fe含量的方法，为SiO2应用及纯度质量控制方面提供简便的检测方法。
实验部分
实验设备及试剂：
原子吸收分光光度计（配有K、Na、Ca、Mg、Fe空心阴极灯，北京东西分析仪器有限公司）；
硝酸（HNO3）：优级纯；
氢氟酸（HF）：优级纯；
高氯酸（HClO4）：优级纯；
盐酸（HCl)：优级纯；
K单元素标准溶液（国家标准物质研究中心）；
Na单元素标准溶液（国家标准物质研究中心）；
Ca单元素标准溶液（国家标准物质研究中心）；
Mg单元素标准溶液（国家标准物质研究中心）；
Fe单元素标准溶液（国家标准物质研究中心）。
样品溶液制备：
称取0.5g（精确到万分之一)样品于聚四氟乙烯罐中，加入10mL氢氟酸，3mL硝酸置于电热板上低温加热溶解30min，加入10mL氢氟酸，2mL高氯酸加热蒸发至糊状，去离子水冲洗内罐，补加1mL高氯酸，加热至高氯酸白烟冒尽，加入4mL盐酸（1+1)，5mL去离子水，加热几分钟待残渣全部溶解后冷却，去离子水转移定容至50mL塑料容量瓶中，摇匀备用。
仪器条件
实验结果
标准溶液的配制
标液中需每100 mL溶液中加入1.5 mL100g/L的氯化锶溶液。
标准曲线
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