赛默飞ESD产品测试技术交流与产品研讨会

赛默飞材料与结构分析中国

2019.10.16

赛默飞材料表征仪器

目前，随着半导体制程的逐渐高阶化，芯片封装形式的多样化，小型化，ESD 测试在实际应用场景中，出现了诸如不同机台之间差异性分析及对比的难题，以及寄生电容对芯片器件的测试结果影响，latchup 栓锁效应测试中的条件设定逐步复杂化，以及接触式 CDM 测试方法的演变等等实际问题。

赛默飞世尔科技 CTS(Compliance Test Solution)业务部门成立于 1975 年，总部在美国波士顿，多年来致力于专业的ESD 设备研发及相关测试技术的研究。截止目前，本公司的 HBM/MM 及 latchup 测试设备在全球市占率达到 95% 以上，具备超过 1000 台装机量。主要商业合作伙伴如三星，台积电，格罗方德(GLOBALFOUNDRIES)，AMD，英特尔，中芯国际，华虹宏力半导体，达尔半导体，富士康，汇顶科技等国际一流公司，均长期使用本公司产品并保持良好合作关系。本公司同时具备雄厚的技术人才储备，公司拥有两名顶尖应用工程专家，且均做为国际静电协会工作组成员，长期从事静电测试理论的发展，标准制定，设备研究与开发等工作。

为进一步推进 ESD 测试技术在芯片鉴定，失效分析等领域中的应用和发展，我公司将在 11 月 6 日及 11 月 8 日于上海和北京各举办一场 ESD 产品测试技术交流与产品研讨会，我们诚挚的邀请您参加本次会议。讲座内容会涵盖以上所有提到的研究热点及实际难题，期待与您在共同探讨测试解决方案的同时，感知和推动 ESD 测试技术往前发展，以及标准演化的过程，共同追求在 ESD 测试技术前沿，求知若渴的乐趣!

会议

信息

上海11月6日

上海万和昊美艺术酒店

二层昊美厅上海市浦东新区祖冲之路 2299 号

北京11月8日

北京中关村皇冠假日酒店

四层多功能A厅北京市海淀区知春路 106 号

时间	内容	报告人
13:15--13:30	致辞欢迎
13:30--14:05	ESD相关标准概述	Carl Rosenblatt
14:05--14:50	栓锁效应及EOS分析	Tom Meuse
14:50--15:45	ESD correlation 误差与寄生电容效应带来的影响	Marcos Hernandez
15:45--16:00	茶歇及合照留影

16:00--16:20	EFA 概述与简介	Al Feng
16:20--17:00	低阻抗接触式CDM 测试研究	Tom Meuse
17:00--17:20	Q&A
17:20--17:30	抽奖时间

应用专家介绍

Carl Rosenblatt

现任赛默飞CTS业务部门总经理，并担任ESD相关产品的市场开发总监职位，对ESD标准发展与ESD测试机台具有十五年以上的丰富行业经验；同时，Carl还与赛默飞应用科学家Marcos拥有一项联合发明专利，技术造诣深厚。加上任职泰瑞达25年的丰富半导体产业经验，Carl是目前该领域杰出而敏锐的市场领航者。

Marcos Hernandez

现担任赛默飞CTS产品资深应用科学家一职，负责与ESD产品相关的所有科学研发，测试应用，设备评估等工作。对于HBM/MM/TLP/CDM等测试应用极为熟悉与精通，曾入选JEDEC/JESD 14.1标准协会工作组成员，目前担任ESDA HBM/JEDEC joint标准协会工作组成员。他是一位在ESD测试领域真正的技术先锋与应用专家。

Tom Meuse

资深的ESD应用工程师，技术专家。Tom作为世界ESD协会器件测试(WG-5.x)委员会的成员，ESDA的WG14系统级工作组主席，以及JEDEC JC-14.1可靠性测试方法委员会的成员，经常参与ESD测试标准的改进、制定与修订。他还是ESDA / JEDEC器件测试联合工作组的成员，也是ESD目标水平行业理事会的贡献成员。此外，Tom还具备ESD协会全美和美国东北分会的董事会成员身份。他是目前CTS最资深的ESD测试领域专家。