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做X线成像检查或红外成像,这些光电探测方案你值得拥有…

滨松
2021.3.30
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3月17日-19日的2021慕尼黑上海光博会顺利举办,滨松中国在此次展会中以“光,无处不在,无限可能”为主题,设置了七大展区:


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涉及众多光子学技术应用及光电产品种类,同时开设了“滨松现场实验室”,首次全面介绍了滨松中国十年间建设起来的本地化服务体系。


在这几天的时间中,小编们将带着大家逐个回顾展区内容,还佐有现场工程师的导览视频,全方位饱览展会精彩!


工业成像,是此次最火的展区之一了。我们知道,人眼可感知的“可见光”在整个光谱中是很窄的,而通过利用X射线、红外光的特性,则能“看到”更多的东西,以此也可为各类工业成像,提供满足要求的解决方案。
 

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X射线、可见光、红外线的成像对比

 
X射线和红外成像各具特点:

X射线成像

高穿透、多/双能成像(物质识别)、高分辨率成像、宽动态范围

红外成像

层穿透、可获得光谱信息、可被动成像、人眼安全、可在开放环境使用


工业成像的展台中,滨松分别展出了“X射线成像检查”“红外成像”应用中的诸多光电探测解决方案,针对不同的应用需求,介绍了丰富的产品类型。

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· X线成像检查潜力应用有哪些?

· 哪个方向发展最迅猛?

· MFX“封闭管”和“开放管”的区别?

· TDI技术在在线检测中有何优势?

· 滨松中国提供怎样的本地快速打样服务?

· 滨松的红外成像方案有哪些?

·现场两台吸睛的红外成像DEMO是什么?


下面,就先由帅气的工程师带领大家回到展会现场,来一一揭晓这些问题的答案吧!


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X射线成像检查

安检CT、集装箱、小动物CT、食品检测、工业CT、电路板检测、电池检查、物品机。
 
这些应用领域,是目前X射线成像检查中,比较具备潜力的。针对这些应用,滨松可以提供PD/PD组合件/PDA、探测器模块及数采卡、微焦点射线源(MFX)、X射线线阵相机/TDI相机/Scmos相机、TDI芯片、I.I影像增强器等等产品。此次展会中进行了较为全面的展示。并针对每种应用需求,归纳出了产品性能着重发展的要点。

此外,我们还针对微焦点射线源、X射线TDI相机、光电二极管阵列、闪烁体,这4类重点产品的技术,进行了介绍。展现了滨松高产品质量背后的工艺实力、对技术的理解、对应用需求的理解,以及产品的发展规划等。
 
在刚刚的视频中,工程师小哥已经了总括性的介绍,这里小编再来给大家详细过一过知识点,供大家查漏补缺啦~

微焦点射线源


微焦点射线源(MFX)是微小焦点的X射线源,微小的焦点能提高透视图像的分辨率,获得更高的成像质量,是非破坏性X射线检测的关键器件。滨松可提供全类型(开放管、封闭管)MFX产品,满足多应用场景需求。
 
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而关于开管和闭管各自的特性,就见下图吧:
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滨松MFX产品一览
 

TDI相机


TDI(Time DelayIntegration,时间延迟积分)技术是一种类似线阵扫描的成像技术。但与线阵相机只有一行像素不同,TDI相机有多行像素。样品在匀速移动时,其X射线投影依次被各行像素采集,TDI相机会将这些信号累积起来用于最终的成像。

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滨松X射线TDI相机有怎样的优势呢?

更高速

在线扫描速度最高达153.8 m / min(双能产品)

更大有效成像区域

最大增至300 mm,2048 pixels 

更耐压

最高可承受130kV的管电压,基本涵盖工业绝大多数应用场景

更多选择

同一代产品,可提供低能、高速版本,同时可根据客户应用场景进行芯片拼接优化


而在X射线成像检查的应用中,咱们必须得提一提的,就是双能X射线TDI技术了。相机高低能之间的能量跨度越大,适用范围越广;低能探测下限越低,对轻薄材料的适用性越好。

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双能X射线TDI技术
 
滨松最新双能TID相机的C15400-30-50A的能量下线可低至18keV。关于这款新产品的,我们已经在此前的推文中进行了介绍,欢迎大家跳转阅读:双能扫描与TDI技术兼容,滨松新款X射线相机带你探索轻质材料的世界

光电二极管阵列


滨松可为X射线成像检查应用提供类型丰富的光电二极管阵列(PDA)产品。全流程In-house的生产,从晶圆到封装,每个环节严格把控,保证了产品的高稳定、高可靠性。目前已实现KK级水平的稳定出货。
 
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这里值得一说的是,滨松的PD产品,全线可采用背照式技术。可实现更小尺寸、更高可靠性、更高通道均匀性,以及更方便与闪烁体进行耦合。我们可以根据客户的需求,进行定制化的产品服务。
 
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闪烁体


X射线成像检查中,闪烁体用于把X射线转化为可见光,实现探测可能。
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北京滨松光子技术股份有限公司(北京滨松)2003年开始,在国内投产了闪烁体,如今已拥有单晶、多晶闪烁材料、光学材料的制备技术和先进精密的加工及封装技术(曾与中科院高能物理研究所合作,突破了大面积复合晶体封装工艺,达国际先进水平),并具备批量生产各类闪烁体的经验和能力。如NaI(TI)、CsI(TI)、CsI(Na)、CsI、CWO、LYSO、RGBS、LaBr3等。
 

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红外成像
 
红外光在光谱中覆盖了很大部分区域,它的穿透能力很强,相对于微波波段的光,也更容易被探测。滨松可为工业、科研应用提供从器件到系统的多类红外成像检查方案。
 
此次主要展示了可应用于色选的InGaAs线/面阵图像传感器,以及太阳能电池板检查、激光光斑成像、红外遥感中多类热门的InGaAs红外相机
 
当然,最吸引目光的还是现场两台相机应用的DEMO:红外显微装置、线阵红外相机DEMO。
 
红外显微装置搭载了滨松经典的InGaAs相机机型C12741-03(点击了解相机详情),显微镜下,大家可以清晰的检测出半导体芯片、太阳能电池板、矿石等样品的内部结构缺陷。
 
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在半导体失效分析的领域,滨松的一体化系统PHEMOS系列在业界也是颇受关注的,而其中涉及到的红外成像部分,也都来自于滨松自研的技术。
 
另外一台线阵红外相机DEMO,则内置了滨松最新的InGaAs线阵相机C15333-10E(点击了解相机详情)。展示了相机在SWIR成像中的应用。可快速、清晰地检测传送带上样品中的杂质。在太阳能电池板检查、色选等应用中,都是妥妥的潜力股。

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随着社会经济的发展,工业成像检测应用的范围在不断的扩大,技术要求也在持续的提高。如何通过探测技术的发展,实现更安全、更高质量的生活,是滨松一直以来所关注、未来也将持续关注的课题。


THE END

编辑:滨小编

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