量子点发光性质检测理想组合
吸收光谱、吸光度、光致发光光谱、寿命
合成量子点质量分析
合成量子点品控监督
新材料合成过程监控
新量子点组分差异鉴别
Duetta A-TEEM™指纹荧光技术，高保真识别分子指纹
Duetta 能够同步获取荧光和吸收光谱，同时进行内滤校正。标配超快先进的CCD技术，能在100毫秒内采集250 nm-1100 nm校正光谱信息。拥有高水平的灵敏度，意味着可测更低浓度的样品，并提供更准确的数据。
图1 Duetta测得量子点的吸收光谱(蓝色)和荧光发射光谱(红色)
图2 Duetta测得量子点的A-TEEM™图谱
DeltaPro 提供快速、高灵敏和高性价比的寿命解决方案
DeltaPro 以其优异的性能及简单实用的特点赋予了TCSPC系统新的定义，满足了广大用户对寿命设备的科研和教学要求。系统采用新型脉冲半导体光源，无需更换控制器和检测器即可实现5ps~1s 的寿命测定。先进的分析软件让您轻松掌握全系列寿命分析功。
图3
DeltaPro测得量子点的寿命衰减曲线(红色，上)
指数拟合曲线(绿色，上)
拟合数据的标准偏差（绿色，下）
图4 DeltaPro测得量子点的寿命拟合结果
扫码下载获取
更多荧光测试信息
点击下方“阅读原文”，下载应用手册！
首页
