量子点表征：吸收光谱、三维荧光、寿命快速测量

量子点发光性质检测理想组合

吸收光谱、吸光度、光致发光光谱、寿命

应用

合成量子点质量分析

合成量子点品控监督

新材料合成过程监控

新量子点组分差异鉴别

实操01

Duetta A-TEEM™指纹荧光技术，高保真识别分子指纹

Duetta 能够同步获取荧光和吸收光谱，同时进行内滤校正。标配超快先进的CCD技术，能在100毫秒内采集250 nm-1100 nm校正光谱信息。拥有高水平的灵敏度，意味着可测更低浓度的样品，并提供更准确的数据。

图1 Duetta测得量子点的吸收光谱(蓝色)和荧光发射光谱(红色)

图2 Duetta测得量子点的A-TEEM™图谱

02

DeltaPro 提供快速、高灵敏和高性价比的寿命解决方案

DeltaPro 以其优异的性能及简单实用的特点赋予了TCSPC系统新的定义，满足了广大用户对寿命设备的科研和教学要求。系统采用新型脉冲半导体光源，无需更换控制器和检测器即可实现5ps~1s 的寿命测定。先进的分析软件让您轻松掌握全系列寿命分析功。

图3

DeltaPro测得量子点的寿命衰减曲线(红色，上)

指数拟合曲线(绿色，上)

拟合数据的标准偏差（绿色，下）

图4 DeltaPro测得量子点的寿命拟合结果

量子点应用手册

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