FAMT 2022
Failure Analysis & Material Testing
失效分析和材料测试会议
7月22日Fraunhofer IISB和Park原子力显微镜将联合在德国举办第二届失效分析和材料测试会议（FAMT 2022)，本次会议将会在线上和线下同时举行。本次会议聚集了电子行业的专业人士，讨论纳米级的创新测试方法和未来物理故障分析的工具。
具体活动时间
日期：2022/7/22
北京时间14:00-21:00
线上ZOOM会议（免费注册后将发送ZOOM会议链接到您的邮箱）
线下地址：Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, Erlangen, Germany德国埃尔朗根
01.
邀请嘉宾｜CONFERENCE
Dr. Dongchul Ihm
韩国三星电子
报告题目：用于先进半导体制造的 SPM 应用
Dr. Jürgen Leib
德国Fraunhofer IISB
报告题目：功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估
Nicholas Antoniou
美国PrimeNano公司
报告题目：用于电子材料 FA 和表征的扫描微波阻抗显微镜 (sMIM)
Alexander Klasen
Park Systems （Park原子力显微镜）
报告题目：显微镜的“瑞士军刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具，可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像
Dr. Albert Minj
比利时imec
报告题目：启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件
Prof. Silke Christiansen
德国弗劳恩霍夫陶瓷技术和系统研究所 (Fraunhofer IKTS)
报告题目：用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM
Derek Nowak, Ph.D.
美国Molecular Vista
报告题目：使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定
Nicholas Randall
瑞士Alemnis AG
报告题目：用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新
02.
日程安排｜CONFERENCE
北京时间下午
14:00 - 14:15 欢迎致辞
Tobias Erlbacher (德国弗劳恩霍夫集成系统与器件技术研究所 IISB 半导体器件部门负责人)
分享嘉宾：
三星半导体 Dr. Dongchul Ihm
14:20 - 14:45
用于先进半导体制造的 SPM 应用
分享嘉宾：
比利时imec Dr. Albert Minj
14:50 - 15:15 启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件
分享嘉宾：Prof. Silke Christiansen
15:20 - 15:45 用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM
15:50 - 16:00 Discussion Panel
分享嘉宾：
Park原子力显微镜
Alexander Klasen
16:20 - 16:45
显微镜的“瑞士军刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具，可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像
分享嘉宾：
Dr. Jürgen Leib
16:50 - 17:15 功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估
分享嘉宾：
Nicholas Randall
17:20 - 17:45 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新
17:50 - 18:10 Discussion Panel
北京时间晚上
分享嘉宾：美国Molecular Vista Derek Nowak, Ph.D
18:20 - 18:45 使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定
分享嘉宾：美国PrimeNano Inc.
Nicholas Antoniou
18:50 - 19:15 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最新创新
03.
报名方式｜CONFERENCE
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