新品发布 | 第三代 Symmetry S3 等 CMOS EBSD 探测器及新功能介绍会

新品介绍

C-Swift+ EBSD 探测器

C-Swift+ 非常适合常规样品的快速采集，其主要性能特点：

· 高速采集：2000 花样每秒

· 花样分辨率：最大 622 x 512 像素，同时采集速度达到 250 花样每秒

· 光纤光学系统设计，对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

· 亚像素花样畸变

图 1  C-Swift+ EBSD 探测器外观

图 2  Ti64 合金的取向面分布图，C-Swift+ EBSD 探测器采集，实际速度达到 2000 花样每秒

C-Nano+ EBSD 探测器

C-Nano+ 适用于表征各种样品，高花样分辨率使其非常适合于精细的应变分析，以及复杂并具有挑战性材料的常规分析，主要特点有：

· 高花样分辨率：1244 x 1024 像素，适合高分辨率 EBSD 应用

· 采集速度：600 花样每秒

· 光纤光学系统设计，对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

· 亚像素花样畸变

图 3  C-Nano+ EBSD 探测器外观

图 4  石英（ SiO2 ）矿物样品的取向面分布图，C-Nano+ EBSD 探测器采集，实际速度达到 653 花样每秒

图 5  立方 ZrO2 相的 1244 x 1024 像素全分辨率 EBSD 花样

直播预告

报名方式

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https://live.oxinst.cn/watch/3301272

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