# SUMMARY
随着科技的进步，零件越做越小，时间与成本的考量，AFM除了可以观察物体的表面形貌外，我们也可以利用AFM探针的优势去测量样品表面的电流与阻值。这方面对于分辨不同材料的分布与微小尺寸测量分析上是很有帮助的。
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时间：10月27日
上午11:30-12:00
本次讲座将分别从以下几点开讲：
1. 原子力显微镜的基本原理
2. 导电原子力显微镜(C-AFM)
3. 扫描扩展电阻显微镜(SSRM)
4. SSRM图像
5. 探针形状& 卷积
Cliff Tseng, Park原子力显微镜
资深技术应用专家
Cliff Tseng从事原子力显微镜行业工作超过20年，具有丰富的原子力显微镜使用经验，负责大中华区原子力显微镜在学术界和产业界的技术支持，积累了丰富的原子力显微镜的使用经验。无论是原子力显微镜在材料领域的性能表征还是半导体行业的计量，都具有丰富的实践经验。Cliff Tseng加入Park Systems 大中华后，担任技术与客户开发顾问，为Park Systems 的客户提供专业的技术咨询和帮助。
400-878-6829
www.parksystems.cn
Park北京分公司
北京市海淀区彩和坊路8号天创科技大厦518室
Park上海实验室
上海市申长路518号虹桥绿谷C座305号
Park广州实验室
广州市天河区五山路200号天河北文创苑B座211
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