SJ 2355.7-1983
半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法

Method of measurement for peak emission wavelength and spectral radiation bandwidth of light-emitting devices

2010-01

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SJ 2355.7-1983

标准号
SJ 2355.7-1983
发布
1983年
发布单位
行业标准-电子
替代标准
SJ/T 11394-2009
当前最新
SJ/T 11394-2009
 
 

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