SJ 20858-2002
碳化硅单晶材料电学参数测试方法

Measuring methods for electrical parameters of silicon carbide single crystal material

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标准号: SJ 20858-2002
发布日期: 2002年12月12日
实施日期: 2003年05月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: H83
发布单位: CN-SJ

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