SJ 20858-2002
碳化硅单晶材料电学参数测试方法

Measuring methods for electrical parameters of silicon carbide single crystal material

SJ 20858-2002 发布历史

SJ 20858-2002由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2002-12-12，并于 2003-05-01 实施。

SJ 20858-2002 在中国标准分类中归属于: H83 化合物半导体材料。

SJ 20858-2002的历代版本如下：

• 2002年12月12日 SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法

标准号

SJ 20858-2002

发布日期

2002年12月12日

实施日期

2003年05月01日

废止日期

无

中国标准分类号

H83

发布单位

CN-SJ

SJ 20858-2002 中可能用到的仪器设备