SJ 1550-1979
硅外延片检测方法

Method of inspection for silicon epitaxial wafers

2010-02

SJ 1550-1979 中，可能用到以下仪器设备

 

SPM-Nanoa 原子力显微镜

SPM-Nanoa 原子力显微镜

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

牛津仪器Cypher VRS1250 视频级高速原子力显微镜（AFM）

牛津仪器Cypher VRS1250 视频级高速原子力显微镜（AFM）

牛津仪器（上海）有限公司

 

MFP-3D-BIO™原子力显微镜

MFP-3D-BIO™原子力显微镜

牛津仪器（上海）有限公司

 

MFP-3D Infinity原子力显微镜

MFP-3D Infinity原子力显微镜

牛津仪器（上海）有限公司

 

Park FX40原子力显微镜

Park FX40原子力显微镜

Park Systems

 

Park Systems NX20 原子力显微镜

Park Systems NX20 原子力显微镜

Park Systems

 

Park Systems XE15 原子力显微镜

Park Systems XE15 原子力显微镜

Park Systems

 

SJ 1550-1979
标准号
SJ 1550-1979
发布
1980年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ 1550-1979
 
 

SJ 1550-1979相似标准

GB/T 14139-2009 硅外延片 GB/T 14015-1992 硅-兰宝石外延片 GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定.汞探针电容-电压法 SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定和探针电容--电压法

SJ 1550-1979 中可能用到的仪器设备

工业显微镜/工具显微镜 体视显微镜/立体显微镜 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM 材料/金相显微镜 腐蚀测试仪 四探针测试仪 电磁法仪器


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