SJ/Z 2926-1988
集成电路制版设备性能测试方法

Test methods for properties of mask-making equipment for manufacturing of ICs


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仪景通光学科技(上海)有限公司

 

蔡司正置显微镜Primostar 3

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SJ/Z 2926-1988

标准号
SJ/Z 2926-1988
发布
1988年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/Z 2926-1988
 
 
本指导性技术文件适用于自动刻(绘)图机、图形发生器、精缩照相机三类光学制版设备主要性能测试方法。测试目的在于检查设备的技术性能指标是否达到原设计或使用要求。 本指导性技术文件未规定的性能测试方法,应在各类设备技术文件中另行规定。

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