BS EN ISO 9220:2022
跟踪更改 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
Tracked Changes. Metallic coatings. Measurement of coating thickness. Scanning electron microscope method
BS EN ISO 9220:2022 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- BS EN ISO 9220:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN ISO 9220:2022
- 范围 本文件规定了通过扫描电子显微镜（SEM）检查横截面来测量金属和其他无机涂层局部厚度的破坏性方法。 该方法适用于厚度达几毫米的情况，但对于如此厚的涂层，使用光学显微镜通常更实用（参见 ISO 1463）。 厚度下限取决于所达到的测量不确定度（参见第 10 条）。 注：当有机层既未因横截面制备或成像过程中的电子束而损坏时，该方法也可用于有机层。
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