BS EN ISO 9220:2022
跟踪更改 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法

Tracked Changes. Metallic coatings. Measurement of coating thickness. Scanning electron microscope method


BS EN ISO 9220:2022 中,可能用到以下仪器

 

国仪量子扫描电镜SEM3200 应用于地矿/有色金属

国仪量子扫描电镜SEM3200 应用于地矿/有色金属

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

扫描电镜SEM3200国仪量子 应用于涂料

扫描电镜SEM3200国仪量子 应用于涂料

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

SEM5000 场发射扫描电镜 国仪量子 应用于涂料

SEM5000 场发射扫描电镜 国仪量子 应用于涂料

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

国仪量子SEM5000扫描电镜 应用于地矿/有色金属

国仪量子SEM5000扫描电镜 应用于地矿/有色金属

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

国仪量子SEM5000扫描电镜 应用于涂料

国仪量子SEM5000扫描电镜 应用于涂料

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

 扫描电子显微镜 SEM3200国仪量子 应用于涂料

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

扫描电镜国仪量子SEM3200 应用于地矿/有色金属

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

扫描电镜Genesis-1000 / 1100EM科特 应用于涂料

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

蔡司Sigma 300扫描电镜 应用于涂料

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

BS EN ISO 9220:2022

标准号
BS EN ISO 9220:2022
发布
2022年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN ISO 9220:2022
 
 
范围 本文件规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检查横截面来测量金属和其他无机涂层局部厚度的破坏性方法。 该方法适用于厚度达几毫米的情况,但对于如此厚的涂层,使用光学显微镜通常更实用(参见 ISO 1463)。 厚度下限取决于所达到的测量不确定度(参见第 10 条)。 注:当有机层既未因横截面制备或成像过程中的电子束而损坏时,该方法也可用于有机层。

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BS EN ISO 9220:2022 中可能用到的仪器设备





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