GB/T 41805-2022
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
GBT41805-2022, GB41805-2022
GB/T 41805-2022 发布历史
本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤、试验数据处理和检测报告。 本文件适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。
GB/T 41805-2022由国家质检总局 CN-GB 发布于 2022-10-14，并于 2023-05-01 实施。
GB/T 41805-2022 在中国标准分类中归属于: N05 仪器、仪表用材料和元件，在国际标准分类中归属于: 81.040.01 玻璃综合。
GB/T 41805-2022 发布之时，引用了标准
- GB/T 1185-2006 光学零件表面疵病
GB/T 41805-2022的历代版本如下：
- 2022年 GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
- 标准号
- GB/T 41805-2022
- 别名
- GBT41805-2022
GB41805-2022 - 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 41805-2022
- 引用标准
- GB/T 1185-2006
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