T/ZAQ 10113-2022
半导体器件间歇工作寿命试验设备

Intermittent working life test equipment for semiconductor devices


T/ZAQ 10113-2022 中,可能用到以下仪器设备

 

激光单粒子效应模拟测量系统

激光单粒子效应模拟测量系统

北京欧兰科技发展有限公司

 

DAGE-4000 Bond tester多功能焊接强度测试仪

DAGE-4000 Bond tester多功能焊接强度测试仪

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

Datacon全自动贴片机2200 evo plus

Datacon全自动贴片机2200 evo plus

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TRYMAX 等离子除胶机 型号:NEO系列

TRYMAX 等离子除胶机 型号:NEO系列

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

纳米压印设备之热压印:EVG510HE

纳米压印设备之热压印:EVG510HE

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

英国Oxford 等离子沉积机PlasmaPro 80 ICPCVD

英国Oxford 等离子沉积机PlasmaPro 80 ICPCVD

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Oxford等离子体刻蚀机PlasmaPro 80 RIE

牛津Oxford等离子体刻蚀机PlasmaPro 80 RIE

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Oxford等离子沉积机PlasmaPro 80 PECVD

牛津Oxford等离子沉积机PlasmaPro 80 PECVD

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Oxford离子束刻蚀机Ionfab 300 IBE

牛津Oxford离子束刻蚀机Ionfab 300 IBE

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Oxford深硅刻蚀机PlasmaPro 100 Estrelas

牛津Oxford深硅刻蚀机PlasmaPro 100 Estrelas

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Oxford原子层刻蚀机PlasmaPro 100 ALE

牛津Oxford原子层刻蚀机PlasmaPro 100 ALE

牛津仪器(上海)有限公司

 

标准号
T/ZAQ 10113-2022
发布
2022年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/ZAQ 10113-2022
 
 
本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备(以下简称寿命试验设备)的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。

T/ZAQ 10113-2022相似标准


推荐

服务项目 | 车规功率模块AQG324认证服务

图5 AQG认证项目介绍表4寿命试验设备方案图6 功率循环测试机台图7  HTXB试验系统监控柜关于广电计量半导体服务广电计量在全国设有元器件筛选及失效分析实验室,形成了以博士、专家为首的技术团队,构建了元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规级芯片与元器件AEC-Q认证等多个技术服务平台,满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域的电子产品质量与可靠性的需求...

电子元器件的可靠性筛选(四)

c)高温寿命(非工作:按照国家标准规定的寿命试验要求,使元器件在规定的环境条件下(通常是最高温度)存储规定的时间。  d)电功率老炼:按降额条件达到最高结温下的老炼目的,老炼功率按元器件各自规定的条件选取。  e)密封性试验:有空腔的元器件,先细检漏,后粗检漏。  f)电参数测试(包括耐压或漏电流等测试):按产品技术规范合同规定进行。  g)功能测试:按产品技术规范合同规定进行。  ...

可靠性测试项目汇总,可留言补充

北京半导体实验室可靠性测试➢ HTOL:高温寿命试验( High Temperature Operating Life ),也叫老化(burn in)➢ LTOL为低温寿命试验,基本与HTOL一样,只是炉温是低温,一般用来寻找热载流子引起的失效,或用来试验存储器件或亚微米尺寸的器件➢ EFR/ELFR:早期失效寿命试验( Early Failure Rate / Early Life Failure...


T/ZAQ 10113-2022 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号