T/ZAQ 10113-2022
半导体器件间歇工作寿命试验设备
Intermittent working life test equipment for semiconductor devices
- 标准号
- T/ZAQ 10113-2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 当前最新
- T/ZAQ 10113-2022
- 本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。
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