ASTM F77-69(1996)
电子器件和半导体应用陶瓷表观密度的测试方法（2001 年撤回）
Test Method for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application (Withdrawn 2001)
ASTM F77-69(1996) 发布历史
ASTM F77-69(1996)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2017-08-16。
ASTM F77-69(1996) 发布之时，引用了标准
- ASTM E29 通过气相色谱 - 质谱法和傅里叶变换红外光谱分析无机粉末中的有机化合物的标准测试方法
ASTM F77-69(1996)的历代版本如下：
- 2017年 ASTM F77-69(1996) 电子器件和半导体应用陶瓷表观密度的测试方法（2001 年撤回）
1.1 本测试方法涵盖电子器件和半导体应用中使用的最大尺寸为 25 毫米（1 英寸）且孔隙率为零或不连续的陶瓷部件表观密度的测定。
1.2 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中的值仅供参考。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全和健康实践，并在使用前确定适用性或监管限制。
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